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导致AEG电容器出现失效的原因有哪些?

2025年03月10日 07:24:08 人气: 62 来源: 宏浩机械·德国瑞科
  今天小编给大家讲讲AEG电容器出现失效形式的原因:
 
  1.水膜凝聚在电容器外壳表面,是应为空气中湿度过高,会致使电容器表面绝缘电阻下降。而相对于半密封结构电容器,水分还会渗透到电容器介质内部,从而导致电容器介质绝缘电阻绝缘下降
 
  2.在半密封电容器高温条件下工作时的无机介质电容器,渗入电容器内部的水分子会产生电解。银离子迁移会在无机介质表面及内部,从而引起漏电流增大,严重时*短路,电容器会击穿。离子迁移会严重破坏正电极表面银层,使无介质电容器的(金属部分损耗增加 等效串联电阻增大 电容器的损耗角正切值上升)
 
  重点:由于银离子迁移而引起失效的现象,银电极低频陶瓷独石电容器比其他类型的严重得多,是在于这类电容器的制造工艺与结构。
 
  3.在高湿度环境条件下工作时,半密封陶瓷电容器,比较普遍的严重问题是发生击穿失效。
 
  银离子迁移使电容器极间边缘电场发生严重畸变,还会由于高湿度环境中陶瓷介质表面凝有水膜,使电容器工作条件下产生表面极间飞弧现象。
 
  4.在波峰焊焊接叠片陶瓷电容器时可能会出现电极端头被焊锡熔掉了。其原因主要是波峰焊叠片陶瓷电容器接触高温焊锡的时间过长。
 
  5.导致陶瓷电容器失效的首要是,陶瓷电容器银离子迁移,和由此而引起含钛陶瓷介质的加速老化,为了提高独石电容器的稳定性能,改用银-钯电极代替且在材料配方中添加了1%的5#玻璃粉。消能促使瓷料烧结致密化,使得产品的性能提升,提升达1~2级。
 
  6.叠片陶瓷电容器机械断裂后,断裂的地方,它的电极绝缘间距会小于击穿电压,会导致一个以上电极之间的电弧放电而*损坏叠片陶瓷电容器。
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