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我公司推出OLED器件和钙钛矿LED发射角度光谱分析系统（OLED光谱分析仪）、载流子迁移率测量系统、电学性能评估系统以及软件模拟研发系统，为广大科研工作者和研发机构提供了有力的测试工具。
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主要测试功能：
OLED效率测量/EQE测量，Lm/W 和 Cd/A；
发射角度测量；
光谱&颜色测量@发射角；
CIE xyY测量；
视角测量；
IVL(电流—电压—亮度)测量；
PL光致发光和EL电致发光测量；
极化测量；
主要技术规格：
角度范围：-85°~+85°；
光谱范围：360nm~880nm，分辨率1.2nm;
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